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5V输入三节锂电池升压充电芯片CS5095进一步提高BAT端口可靠性的建议
文章来源:永阜康科技 更新时间:2020/9/3 10:33:00

应用背景:
CS5095E芯片的BAT端口本身就可以抗住20V的高压,具有较高的可靠性。当电池端进行热插拔操作,特别是接电机等感性负载时,BAT端口必须额外接一个至少100μF电容,空间允许的情况下,最好接470μF电容。

但在产品实际应用时,例如接某些电机工作时,或者电池有个很大的放电然后突然没了,或者电池有个很大的放电然后突然没了,就会产生一个很大的反弹电压,这个反弹电压如果超出芯片端口的耐压值,就会损坏芯片。因此根据产品工作时BAT端口的实际电压尖峰,可以进一步提高BAT端口的可靠性。

提高BAT端口的可靠性:

串联一个PMOS管(AO3407),外加3个电阻以及一个NPN管控制栅极。

注意PMOS管的源极,要接电池的正极。

除此之外,还有另一个优点:当VIN不上电,电池几乎没有泄漏电流流入芯片。

芯片VIN不上电,有负载仪的一个12V的输出线,去碰PMOS管的源级。

没加PMOS管,在芯片BAT端口出现一个很高的尖峰电压。

加上PMOS管,在芯片BAT端口检测不到电压。

 



 
 
 
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